USB 2.0 Cable
通用串行接口USB 2.0 线缆高速电气性能测试，包括时域测试(阻抗、传播延时、传播延时偏移)和频域测试(信号衰减)。
USB 2.0 电气
通用串行接口USB 2.0 主机、设备和集线器三类产品电气性能测试，包括高速信号质量测试、包参数测试、Chirp时序测试、挂起/恢复状态转换时序测试、J序列和K序列电平和时序测试等测试项目。
Signal Quality（信号完整性测试）
主要进行眼图模板测试、传输设备的传输数据速率测试、在合适的眼图模板中确认数据转换的单调性、测试差分上升沿、下降沿时间：
Signal Eye: PASSEye Violation Data Points: x=0 Violation Point
Signal Rate: 479.76MHz≤x≤480.24MHz（设备传输速率）
Edge Monotonicity：x≤50mV（边缘单调性）
Rising Edge Rate: x≤1.422 kV/us
Rise Time: x≥450ps （上升沿时间）
Falling Edge Rate: x≤1.422 kV/us
Fall Time: x≥450ps （下降沿时间）
Packet Parameters（包参数测试）
测试EOP、SYNC信号中数据包的持续时间、包数据之间的延时差：
Data Packet Sync Bit Count: x ≥32 bits times
Data Packet EOP Bit Count: x ≥8 bits times
Host/Host Interpacket Delay: 88 bits times≤x≤192 bits times
Device/Host Inter-packet Delay: 8 bits times≤x≤192bits times
SOF EOP Bit Count: x ≥40 bits times
Chirp Timing（啁啾测试）
测试K、J交替序列时的响应时间、测试K、J数据序列握手的持续时间：
Chirp K Response Time: 0≤x≤100us（K脉冲信号的响应时间）
Chirp KJ Duration: 40us≤x≤60us（独立脉冲的持续时间）
Time between Last Chirp And First SOF: 100us≤x≤500us（JK序列信号在复位结束之前持续的时间）
Suspend/Resume Timing（挂起、唤醒时间测试）
测试挂起时间、测试唤醒时间：
Suspend Time：3ms≤x≤3.125ms（挂起时间）
Resume Time：0≤x≤3ms（唤醒时间）
Test J/K，SE0_NAK（JK抖动测试）
测试D+、D-端口在高、低电平时的输出电压：
J Voltage D-/K volatge D+: -20mV≤x≤20mV
SE0 voltage D+/D-: -20mV≤x≤20mV
J Voltage D-/K volatge D+: -20mV≤x≤20mV
SE0 voltage D+/D-: -20mV≤x≤20mV
USB 3.0 Cable
通用串行接口USB 3.0 线缆高速电气性能测试，包括时域测试(阻抗、传播延时、传播延时偏移)和频域测试(信号衰减、插损、串扰)：
Mated Connector Impedance measurements
Raw Cable Impedance measurements
Intra-Pair Skew measurements
D+/D- Pair Intra-Pair Skew measurements
D+/D- Pair Propagation Delay measurements
Differential Near End Crosstalk measurements
Differential Crosstalk Between D+/D- and Super Speed measurements
Insertion Loss measurements
Differential-to-Common-Mode Conversion measurements
D+/D- Pair Attenuation measurements
USB 3.x 电气
通用串行接口USB 3.1 主机、设备、集线器电气性能测试，包括TX和RX测试。
TD1.1 – Low Frequency Periodic Signaling Test TX Test
测量TX发射机Polling.LFPS信令的电压和时间参数，包括上升、下降时间、周期、占空比、峰峰值、共模电压，突发持续时间和重复时间等参数。
TD1.2 – Low Frequency Periodic Signaling Test RX Test
验证RX接收机能正确识别不同电压摆幅和占空比的LFPS信号。
TD1.3 – Transmitter Eye Test
验证发射机在不同传输信道模型下的抖动和眼图是否符合规范要求。
TD1.4 – Transmitted SSC Profile Test
测量发射机扩频时钟的调制频率、频偏最大值和频偏最小值。
TD1.5 – Receiver Jitter Tolerance Test
USB Type-C Cable
通用串行接口USB Type C 线缆电气性能测试：
D+/D- 阻抗
D+/D- 传播时延
D+/D- 对内偏差
差分阻抗
[原线材（Raw Cable）] 特征阻抗
[原线材（Raw Cable）] 对内偏差
[配对连接器] 差分阻抗
[低速信号] 特征阻抗
D+/D- 对衰减
ILfitatNq、IMR、IXT、IRL、差分到共模转换
屏蔽效应
插入损耗
回波损耗
第 2 代信号对之间的近端串扰/远端串扰（NEXT/FEXT）
D+/D- 对和第 2 代信号对之间的近端串扰/远端串扰（NEXT/FEXT）
[原线材（Raw Cable）] 插入损耗
[配对连接器] 插入损耗
[配对连接器] 回波损耗
[配对连接器] 第 2 代信号对之间的近端串扰/远端串扰（NEXT/FEXT）
[配对连接器] D+/D- 对和第 2 代信号对之间的近端串扰/远端串扰（NEXT/FEXT）
[配对连接器] 差分至共模转换
[低速信号] 串扰、VBUS 环路 L/C、耦合因数
